欧美日产国产精品,本免费Av无码专区一区,共妻承欢众夫nP高H,无码天堂va亚洲va在线va

光學膜厚測量儀 A3-SR-300系列

 

 


  • 產品簡介
  • 應用領域
  • 在線咨詢
技術描述
產品型號 A3-SR-300
產品尺寸 寬800mm*長1000mm*高500mm
產品圖片
運動方式 手動
測試方式 近紅外 反射(R)
波長范圍 700nm -900 nm(實際要求會有所不同)
光源 鎢鹵素燈壽命10000小時
光路和傳感器 光纖式(FILBER )+進口光譜儀
入射角 0 度 (垂直入射)  (0 DEGREE)
參考光樣品 硅片
光斑大小 About 1 mm(標配,可以根據(jù)用戶要求配置)
樣品大小 450X550毫米
XY行程 手動,450X550毫米

膜厚測量性能指標(THICKNESS SPECIFICATION):
產品型號 A3-SR-300
厚度測量1 100nm - 300 um
折射率1(厚度要求) 大于200nm
準確性2  2 nm 或0. 5%
精度3 0.1 nm
1 表內為典型數(shù)值, 實際上材料和待測結構也會影響性能
2 使用硅片上的二氧化硅測量,實際上材料和待測結構也會影響性能
3 使用硅片上的二氧化硅(500納米)測量30次得出的1階標準均方差,每次測量小于1秒.

軟件(SOFTWARE):
檢測項目 標準型
層數(shù) 10 層
材料 表格型和函數(shù)型
粗糙度模型
反射/透射 反射型+透射型
材料庫 表格型+函數(shù)型
入射角 垂直入射
折射率測量

姓名*
電話*
郵箱*
地址*
公司名稱
聯(lián)系地址
留言
Copyright ? 上海訊量 二次元影像測量儀 上海影像測量儀 上海二次元測量儀 版權所有